Máy phát hiện và sàng lọc vòng đệm cao su hình chữ O

I. Đặc điểm của Thiết bị kiểm tra trực quan Huya:

1. Thiết bị được phát triển tự động độc lập, có mức độ tự động hóa cao và ứng dụng rộng rãi.

2. Cơ chế nạp, xả tự động và hệ thống cảnh báo thiếu nguyên liệu (tấm rung hoặc thang máy có thể được cấu hình theo yêu cầu).

3. Hệ thống kiểm tra trực quan hiệu quả cao, với phạm vi phát hiện rộng, độ chính xác phát hiện cao và vận hành đơn giản.

4. Chọn 1-16 bộ camera có độ phân giải cao từ CCD của Đức, với chất lượng đáng tin cậy và hiệu suất tốt.

5. Kết quả phát hiện có thể được tùy chỉnh và thiết bị sẽ tự động phân loại và xử lý "đủ tiêu chuẩn" và "không đủ tiêu chuẩn".

6. Phân loại và lưu trữ một số lượng lớn các tập tin và dữ liệu sản phẩm.

7. Nâng cấp mạng từ xa và bảo trì hệ thống liên quan có sẵn.

II. Các hạng mục phát hiện của Thiết bị kiểm tra trực quan Huya:

1. Phát hiện vòng chữ O: Phát hiện kích thước: đường kính ngoài, đường kính trong, đường kính dây, chiều cao; Phát hiện khuyết tật bề mặt: các khuyết tật bề ngoài như gờ, thiếu vật liệu, vết nứt, vật liệu bám dính, bong bóng, vết chảy, biến dạng, vật liệu hỗn hợp, v.v., cũng như các khuyết tật bề ngoài ở mặt trong và mặt ngoài.

2. Phát hiện vít: Chiều cao nhiều đoạn, nhiều chiều rộng, kim gãy, lỗ cắm, chiều dài ren không hiệu quả (chiều cao ren dưới cổ), đường kính gốc ren, đường kính ngoài của ren, bước ren, ren nghiêng, cán ren kém, vít chiều dài, đầu có mạ điện hay không, có vát mép, có lỗ cắm, độ lệch tâm, có ren hay không, v.v.

3. Các phát hiện khác: Phát hiện kích thước khác nhau, phát hiện khuyết tật bề mặt, đặc điểm bề mặt, phát hiện dấu, phát hiện ký tự, nhận dạng mã vạch, phát hiện khuyết tật bất thường, định vị cơ học, phát hiện lắp ráp, phát hiện tùy chỉnh, v.v.

Phạm vi ứng dụng: Áp dụng để phát hiện các sản phẩm khác nhau như vòng cao su loại O, phớt dầu, ốc vít, đai ốc, bánh răng, bộ phận phần cứng chính xác, bộ phận nhựa, bộ phận điện tử, v.v.

Máy đóng và gấp nắp kẹo cao su tự động

Máy khóa vít tự động mười sáu trục

Máy kiểm tra quang học cho tấm chia